自德國(guó)物理學(xué)家倫琴1895年發(fā)現(xiàn)X射線以來(lái),利用X射線與物質(zhì)的相互作用,誕生了多種材料分析測(cè)試手段,例如X射線衍射分析、X射線熒光分析、X射線光電子能譜分析及X射線俄歇能譜分析等。這其中,X射線衍射方法是確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、定性和定量物相分析、點(diǎn)陣常數(shù)精確測(cè)定、應(yīng)力測(cè)定、晶體取向測(cè)定的有效方法。
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自德國(guó)物理學(xué)家倫琴1895年發(fā)現(xiàn)X射線以來(lái),利用X射線與物質(zhì)的相互作用,誕生了多種材料分析測(cè)試手段,例如X射線衍射分析、X射線熒光分析、X射線光電子能譜分析及X射線俄歇能譜分析等。這其中,X射線衍射方法是確定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、定性和定量物相分析、點(diǎn)陣常數(shù)精確測(cè)定、應(yīng)力測(cè)定、晶體取向測(cè)定的有效方法。